量子效率測試儀測試方法與步驟：

　　（1）將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)。

　　（2）通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。（一般調(diào)好不用管）。

　?。?）調(diào)節(jié)移動位移臺，將標準件調(diào)到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　?。?）記錄皮安表的數(shù)值，查表，找出對應波長的數(shù)值，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對皮瓦）

　　（5）蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖，設(shè)置參數(shù)中輸入對應波長，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　?。?）調(diào)節(jié)移動位移臺，將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點）。

　　（7）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應波長，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　?。?）記錄量子效率測試儀的量子效率值。